2015年12月14日 / 最終更新日 : 2015年12月14日 iwasawa 内視鏡などの情報 【非破壊検査が行われる理由】 非破壊検査を行う目的の一つに、「機械・装置、製品などの信頼性を高める事」があります。 傷や欠陥を発見し、不完全な製品を世に送り出してしまわないようにすることが非常に大事であり、機械や装置が「期待された稼働時間のうち、どの […]
2015年12月11日 / 最終更新日 : 2015年12月11日 iwasawa 内視鏡などの情報 【きず・傷・欠陥の違い】 非破壊検査において発見された「きず」が、ひらがなで「きず」と表記される場合と、「傷」「欠陥」と表記される場合では意味合いが異なります。 「きず」は、非破壊検査の全てが終了して、合否が分かるまで、その「きず」が有害であるか […]
2015年12月10日 / 最終更新日 : 2015年12月10日 iwasawa 内視鏡などの情報 【目視試験に使われる機器】 目視試験（VT）は、機械・装置、製品などの表面についたきずを、人間の目で見るだけではなく、マイクロスコープやCCDカメラなどで観察すること、拡大鏡・双眼鏡などで観察されることもあります。 機械・装置の表面からは見えない隠 […]
2015年12月9日 / 最終更新日 : 2015年12月9日 iwasawa マイクロスコープ情報 【非破壊検査の様々な検査法】 非破壊検査にも様々な方法があり、目視試験（VT）と呼ばれる検査では、人間の眼やマイクロスコープ、CCDカメラなどが使用されます。 放射線透過試験 (RT）は、内部きずの発見のために役立つ試験ですが、逆に微細な表面きずの発 […]
2015年12月8日 / 最終更新日 : 2015年12月8日 iwasawa マイクロスコープ情報 【非破壊検査とマイクロスコープ】 非破壊検査とは、その名前の通り様々な構造物、機械・装置、あるいはできあがった製品などを、破壊することなく検査を行う技術です。 マイクロスコープは非破壊検査に欠かせない道具として使われています。 製造業、建設業などで使われ […]
2015年12月7日 / 最終更新日 : 2015年12月7日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【ウィスカへの対策は？】 ウィスカの発生を抑えるために、鉛をまぜたメッキが行われてきたという歴史はあるのですが、実はウィスカが発生するメカニズム、そしてそれを抑制する方法というのは、まだ特定されていません。 ウィスカの発生を抑えるために、鉛を使わ […]
2015年12月4日 / 最終更新日 : 2015年12月4日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【ウィスカの観察とマイクロスコープ】 ウィスカ（whisker）は「ひげ」という意味であり、金属メッキ等に発生するウィスカは、針や動物のヒゲのような細い結晶の形をしています。 そのため、マイクロスコープで観察する場合には、高倍率での観察をしなければなりません […]
2015年12月3日 / 最終更新日 : 2015年12月3日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【ウィスカ評価試験の重要性】 ウィスカが発生していないかをチェックする「ウィスカ評価試験」には、マイクロスコープによる観察が重要視されます。 ウィスカを放置してしまうと、徐々に大きくなったウィスカが、電子機器などに短絡回路を形成し、機器の故障・破損な […]
2015年12月2日 / 最終更新日 : 2015年12月2日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【ウィスカと鉛フリー化の関係】 ウィスカの発生を抑えるためには、「すず（Sn）」だけを使ってめっきするより、鉛を混ぜることが役立つと考えられてきました。 しかし、鉛は人体に有害な物質であり、長期間にわたって人間の体内に蓄積されると、慢性の鉛中毒を引き起 […]
2015年12月1日 / 最終更新日 : 2015年12月1日 iwasawa 光学用語の基礎知識 【ウィスカの発見と事故防止】 金属表面に施されたメッキの、メッキ皮膜表面にひげのような金属結晶が発生することがあり、この金属結晶を放置すると製品・商品の故障などにつながります。 この金属結晶は「ウィスカ (Whisker)」と呼ばれ、たとえば電子機器 […]
